Microfocus Industrial CT ialah instrumen ujian dan analisis yang tidak-memusnahkan berdasarkan-teknologi tomografi terkira (CT) sinar-X, yang digunakan terutamanya dalam sains bumi, sains bahan dan aeroangkasa.
Teknologi terasnya termasuk sumber sinar X-voltan tinggi 60-320kV tinggi-, senapang sinar X-panjang fokus minimum 3μm (model 225kV) dan pengesan tatasusunan permukaan silikon amorfus 2000x2000 piksel, menyokong penukaran 16}bit{{11}log{10}{10}{101} Peralatan ini dilengkapi dengan sistem gerakan lima-paksi dan mod pengimbasan rasuk-kon/heliks, mendayakan kecondongan ±30 darjah dan pengimbasan putaran 360 darjah, kapasiti sampel maksimum 50kg dan pengimejan pembesaran geometri 150x. Melalui algoritma unjuran belakang yang ditapis, ia boleh melengkapkan pembinaan semula struktur 3D dalam masa 90 minit, mencapai resolusi spatial 50 lp/mm. Fungsi termasuk pengukuran dimensi dalaman, pemodelan terbalik, analisis kehomogenan bahan, dan pengesahan pemasangan, dan ia telah digunakan dalam pengesanan kecacatan bilah turbin dan pengoptimuman proses piroteknik.
Ia boleh digunakan untuk mengukur bentuk dan dimensi sampel dengan struktur dalaman yang kompleks.
Ia boleh digunakan untuk sampel kejuruteraan terbalik, iaitu, membina model CAD berdasarkan imej CT, dan kemudian mengeluarkan objek yang sepadan berdasarkan model CAD. Periksa komposisi komponen yang dipasang dan hubungan pemasangannya. Menganalisis komposisi: seperti keseragaman bahan semasa pembuatan bahagian atau penyediaan bahan komposit, dan ketebalan dan keseragaman salutan. Lakukan ujian tidak-memusnahkan pada sampel di bawah beban dan persekitaran yang berbeza untuk membantu dalam reka bentuk pengoptimuman struktur bahan.
